UF3000EX-e

Vollautomatischer Wafer Prober – verfügbar für eine Vielzahl von Sonderanwendungen

Kompromisslos im Durchsatz

Hochflexibel in der Anwendung

Punktgenau in der Navigation

Berührungslos bei der Messung
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Für Wafer von 200 bis 300 mm Durchmesser – auch für spezielle Wafertypen
  • Neu entwickelte XY Stage Antriebseinheit und neuer Algorithmus für extrem hohen Durchsatz
  • Verbesserte Z-Plattform für höchste Probekraft – für gleichmäßigen Kontakt auf großflächigen und High Pin Count Probe Cards
  • 15 Inch LCD Touch Screen für einfache Bedienbarkeit
  • Optical Target Scope (OTS) zum hochpräzisen Messen der relativen Positionen von Probe Card und Chuck
  • Tri-Color 3-Level Magnifying für farbige Aufnahmen in 3 Vergrößerungsebenen
  • Navigations Display Funktion – durch einfaches Berühren der Wafermap kann der User zu jedem gewünschten Waferpunkt gelangen
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