{"version":"1.0","provider_name":"ACCRETECH (Europe)","provider_url":"https:\/\/www.accretech.eu\/de\/","author_name":"Prause","author_url":"https:\/\/www.accretech.eu\/de\/author\/katharina-prause\/","title":"Pressemitteilung zum Proben von D\u00fcnnen Wafern: Fachvortrag am Institut f\u00fcr Elektronik der TU Graz","type":"rich","width":600,"height":338,"html":"<blockquote class=\"wp-embedded-content\" data-secret=\"dwbbL5Bplv\"><a href=\"https:\/\/www.accretech.eu\/de\/fachvortrag-proben-von-duennen-wafern\/\">Pressemitteilung zum Proben von D\u00fcnnen Wafern: Fachvortrag am Institut f\u00fcr Elektronik der TU Graz<\/a><\/blockquote><iframe sandbox=\"allow-scripts\" security=\"restricted\" src=\"https:\/\/www.accretech.eu\/de\/fachvortrag-proben-von-duennen-wafern\/embed\/#?secret=dwbbL5Bplv\" width=\"600\" height=\"338\" title=\"&#8222;Pressemitteilung zum Proben von D\u00fcnnen Wafern: Fachvortrag am Institut f\u00fcr Elektronik der TU Graz&#8220; &#8212; ACCRETECH (Europe)\" data-secret=\"dwbbL5Bplv\" frameborder=\"0\" marginwidth=\"0\" marginheight=\"0\" scrolling=\"no\" class=\"wp-embedded-content\"><\/iframe><script type=\"text\/javascript\">\n\/* <![CDATA[ *\/\n\/*! This file is auto-generated *\/\n!function(d,l){\"use strict\";l.querySelector&&d.addEventListener&&\"undefined\"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!\/[^a-zA-Z0-9]\/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),c=new RegExp(\"^https?:$\",\"i\"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display=\"none\";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute(\"style\"),\"height\"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):\"link\"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute(\"src\")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener(\"message\",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener(\"DOMContentLoaded\",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll(\"iframe.wp-embedded-content\"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute(\"data-secret\"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+=\"#?secret=\"+t,e.setAttribute(\"data-secret\",t)),e.contentWindow.postMessage({message:\"ready\",secret:t},\"*\")},!1)))}(window,document);\n\/* ]]> *\/\n<\/script>\n","thumbnail_url":"https:\/\/www.accretech.eu\/wp-content\/uploads\/2019\/07\/20190626_093507-e1563869644332-1030x865.jpg","thumbnail_width":1030,"thumbnail_height":865,"description":"Im Rahmen der Vorlesung \u201eProduction Test and Design for Test\u201c aus dem Ausbildungsschwerpunkt \u201eAnalog Chip Design\u201c wurden Vertreter namhafter Hersteller als Vortragende eingeladen. Ralf Hillbrecht (Account Manager bei ACCRETECH Europe) ging in seinem Vortrag insbesondere auf die Herausforderungen beim Proben und Testen von D\u00fcnnen Wafern ein."}