SURFCOM NEX 100

Najnowsza generacja z innowacyjną technologią dual


2 układy pomiarowe zintegrowane w jednym czujniku

Detektor chropowatości i konturów z 5 mm

wychyleniem, 10 mm w przypadku podwójnej długości czujnika

Bez wymiany systemu czujników

Jednostka posuwu o niskich drganiach poprzez silnik liniowy

Dokładność prostości (0,05 + L/1000) µm

Dokładność Z ±(1,0 + 2 H/100) µm

Wysoka rozdzielczość systemu czujników 1,0 nm
  • Opatentowana technika liniowa umożliwia bardzo dokładne pomiary przy niewielkich drganiach
  • Bezobsługowość dzięki bezdotykowemu napędowi
  • Stoły CNC do automatycznego pozycjonowania obrabianego elementu
  • Opcja topografii ze stołem Y
  • Opcja topografii z oprogramowaniem SURFCOM Map i opatentowanym przez firmę Accretech sterownikiem Y, umożliwiającym pomiar również dużych obrabianych elementów.
  • Spójne oprogramowanie ACCTee do analizy profili konturów i chropowatości

Możliwość połączenia z poniższymi głowicami:

NEX 001

NEX 030

NEX 040

NEX 100

czujnik optyczny

Zakres zastosowań
Nowy czujnik dual uzyskuje najwyższe dokładności pomiarowe dzięki swoim dwóm równocześnie mierzącym systemom pomiarowym, zintegrowanym w tylko jednej głowicy czujnikowej. Do pomiaru powierzchni dane są rejestrowane z techniką indukcyjną o wysokiej rozdzielczości i dużym zakresem pomiaru konturów za pomocą szklanej miary. W ten sposób można uzyskać przy jednym tylko pomiarze duży zakres mierzenia, równocześnie z bardzo wysoką rozdzielczością.

Sie sehen gerade einen Platzhalterinhalt von Standard. Um auf den eigentlichen Inhalt zuzugreifen, klicken Sie auf den Button unten. Bitte beachten Sie, dass dabei Daten an Drittanbieter weitergegeben werden.

Weitere Informationen