UF3000EX

Całkowicie automatyczny próbnik płytki spełniający najwyższe wymagania produkcyjne – jeszcze szybszy i dokładniejszy

Wyjątkowo duża wydajność

Najwyższa moc próbnika

Optyczny układ pomiaru

Nawigacja z dokładnością do punktu

Nowo zaprojektowana jednostka napędowa XY Stage oraz nowa procedura obliczeniowa dla ekstremalnie wysokiej wydajności
Ulepszona platforma Z zapewnia największą moc próbnika – dla równomiernego kontaktu na dużych powierzchniach oraz high pin count probe cards
Wysoce stabilna oś Z z wielkopowierzchniową jednostką czyszczenia igły
15-calowy ekran dotykowy LCD zapewnia łatwą obsługę
Optical target scope (OTS) do bardzo precyzyjnych pomiarów pozycji względnych probe card i chunk.
Trójkolorowe, trójpoziomowe powiększanie kolorowych zdjęć i 3 stopnie powiększenia
Funkcja ekranu nawigacji – poprzez dotknięcie mapy płytki użytkownik może przejść do każdego żądanego punktu płytki