SURFCOM NEX 100
Najnowsza generacja z innowacyjną technologią dual
2 układy pomiarowe zintegrowane w jednym czujniku
Detektor chropowatości i konturów z 5 mm
wychyleniem, 10 mm w przypadku podwójnej długości czujnika
Bez wymiany systemu czujników
Jednostka posuwu o niskich drganiach poprzez silnik liniowy
Dokładność prostości (0,05 + L/1000) µm
Dokładność Z ±(1,0 + 2 H/100) µm
Wysoka rozdzielczość systemu czujników 1,0 nm
- Opatentowana technika liniowa umożliwia bardzo dokładne pomiary przy niewielkich drganiach
- Bezobsługowość dzięki bezdotykowemu napędowi
- Stoły CNC do automatycznego pozycjonowania obrabianego elementu
- Opcja topografii ze stołem Y
- Opcja topografii z oprogramowaniem SURFCOM Map i opatentowanym przez firmę Accretech sterownikiem Y, umożliwiającym pomiar również dużych obrabianych elementów.
- Spójne oprogramowanie ACCTee do analizy profili konturów i chropowatości
Możliwość połączenia z poniższymi głowicami:
NEX 001
NEX 030
NEX 040
NEX 100
czujnik optyczny
Zakres zastosowań
Nowy czujnik dual uzyskuje najwyższe dokładności pomiarowe dzięki swoim dwóm równocześnie mierzącym systemom pomiarowym, zintegrowanym w tylko jednej głowicy czujnikowej. Do pomiaru powierzchni dane są rejestrowane z techniką indukcyjną o wysokiej rozdzielczości i dużym zakresem pomiaru konturów za pomocą szklanej miary. W ten sposób można uzyskać przy jednym tylko pomiarze duży zakres mierzenia, równocześnie z bardzo wysoką rozdzielczością.
Aktualnie wyświetlana jest treść zastępcza z Youtube. Aby uzyskać dostęp do rzeczywistej treści, kliknij poniższy przycisk. Pamiętaj, że spowoduje to udostępnienie danych zewnętrznym operatorom.