Wafer Probing gépek
A Wafer Prober gépekre a lapkaalapú chipek elektromos teszteléséhez van szükség. A tesztelőberendezés a legnagyobb pozicionálási pontossággal, teljesen automata módon végzi a lapkák berakodását és továbbítását. Egy komplett tesztcella egy Wafer Prober berendezésből, egy tesztelőegységből, valamint egy tesztelőkártyából (Probe Card) áll. 200 mm-től 300 mm átmérőjű lapkákhoz használható Flagship Wafer Prober berendezéseink az új technológiáknak köszönhetően nemcsak rendkívüli pontossággal végzik munkájukat, de átlagon felüli áteresztőképességükkel maximális kihasználtságot és termelékenységet is eredményeznek.