Wafer Probing gépek

A Wafer Prober gépekre a lapkaalapú chipek elektromos teszteléséhez van szükség. A tesztelőberendezés a legnagyobb pozicionálási pontossággal, teljesen automata módon végzi a lapkák berakodását és továbbítását. Egy komplett tesztcella egy Wafer Prober berendezésből, egy tesztelőegységből, valamint egy tesztelőkártyából (Probe Card) áll. 200 mm-től 300 mm átmérőjű lapkákhoz használható Flagship Wafer Prober berendezéseink az új technológiáknak köszönhetően nemcsak rendkívüli pontossággal végzik munkájukat, de átlagon felüli áteresztőképességükkel maximális kihasználtságot és termelékenységet is eredményeznek.

Állunk rendelkezésére
+36 23 232 224

Kapcsolatfelvétel

≤ 200 mm-es Wafer Proberek

Megfelelő megoldást kínálunk minden igényhez: termékpalettánkban minden fellelhető a jól bevált teljesen automata alapmodelltől egészen a széles hőmérséklettartományban is legnagyobb pontossággal működő, ultragyors High End modellig.

UF190R
 UF200R
 UF2000

≤ 300 mm-es Wafer Proberek

Nagy áteresztőképesség és +-1,5 µm-es pontosság legfeljebb 300 mm átmérőjű lapkákhoz. Minden tesztkörnyezethez illeszkednek, egyszerűen kezelhetők és irányíthatók.

UF3000EX
 UF3000EX-e

Wafer és Frame Proberek

Rendkívüli rugalmasság. A Frame Handling Prober berendezések ultravékony egész lapkák, valamint dicing frame-re helyezett lapkák tesztelésére is használhatók.

 FP2000
 FP3000

Key Features

High Voltage

High Current

Vaccum-less handling (MEMS)

Light-free 

Group Index

Bump Probing

Color Camera

Super-high Magnification camera

Mini environment (ISO xx)

OHT

Thin Wafer

Ultra Thin Wafer

Top-side handling