ACCRETECH_Optische_Messgeräte

Bezdotykowe, szybkie, trójwymiarowe.

Optyczne systemy do pomiaru powierzchni firmy ACCRETECH

Optyczne systemy pomiarowe

Szybkie pomiary konturów i chropowatości

W dzisiejszych czasach w przypadku wielu elementów nie wystarczy już zbieranie wymiarów metodą stykową. Coraz częściej konieczne jest zebranie całej dwu- lub trójwymiarowej topografii powierzchni. Dzięki pomiarom optycznym tworzone są chmury punktów o wyjątkowo dużej gęstości punktów. Uzyskana w ten sposób rozdzielczość jest odpowiednia do oceny nawet najmniejszych precyzyjnych geometrii.

W szczególności w przypadku większych i płaskich detali zaletą jest pomiar optyczny, ponieważ umożliwia ona znacznie szybszy przebieg pomiaru.

W ten sposób pomiary można nawet wykonać na podstawie modelu CAD – zaś dwuwymiarowy obraz odchyleń może być generowany w czasie zbliżonym do rzeczywistego. Wyniki te pozwalają na szybką analizę procesu produkcyjnego i umożliwiają krótki czas reakcji.

Kolejną zaletą pomiarów optycznych jest to, że detale i ich powierzchnie można mierzyć bezdotykowo, aby uniknąć uszkodzenia ich detektorem. Dotyczy to np. delikatnych powierzchni plastikowych i lustrzanych.

Optyczne systemy do pomiaru powierzchni firmy ACCRETECH

Link to: Opt-Scope (3D)

Szybkie pomiary struktur powierzchni 3D za pomocą interferometru światła białego

  • Oszczędza dużo czasu w porównaniu do pomiarów fizycznych
  • Zakres skanowania w pionie 20 mm
  • Rozdzielczość 0,1 Nm
  • Dokładność (0,08 ±/2H/100) μm

więcej informacji

Czujnik światła białego

W połączeniu z urządzeniem z serii SURFCOM NEX, czujnik światła białego zapewnia pomiar optyczny chropowatości powierzchni tworzyw sztucznych, folii, papieru i innych delikatnych detali.

  • Ultra szybki pomiar optyczny
  • Zakres pomiarowy w osi Z = 300 μm
  • Wysoka rozdzielczość wynosząca 10 nm
  • Maks. kąt pomiaru 30°

więcej informacji

Dzięki Opt-Scope, firma ACCRETECH oferuje optyczny system do pomiaru chropowatości oparty na interferometrii światła białego, który może być używany do pomiaru zarówno konturów, jak i chropowatości – i to z rozdzielczością do 0,01 nanometra.

Procedura interferometrii światła białego wykorzystuje interferencje ze światła szerokopasmowego, które ma krótszą długość koherencji niż światło laserowe. Wiązka światła jest dzielona na dwie ścieżki za pomocą rozdzielacza wiązki. Jedna wiązka odbija się od lustra odniesienia, a druga na próbkę do pomiaru. Dwie wiązki przecinają się na ścieżce powrotnej. Tworzy to wzór interferencji, który jest rejestrowany przez kamerę. Interferencje występują, gdy różnica długości między lustrem odniesienia a powierzchnią próbki jest mniejsza niż długość koherencji.

Efekt ten jest wykorzystywany w skaningowej interferometrii światła białego Opt-Scope. Próbka jest przesuwana prostopadle do zespołu pomiarowego w zakresie interferencji, zaś wzory interferencji są wykreślane przez kamerę w dyskretnych odstępach ruchu. Dla każdego piksela rejestrowana jest funkcja autokorelacji (interferogram) oryginalnej wiązki światła w miejscu jej przechodzenia przez ścieżkę.

System pomiarowy Opt-Scope umożliwia precyzyjny pomiar topografii powierzchni w czasie kilku sekund. Dzięki temu jest do 100 razy szybszy niż fizyczny pomiar chropowatości 3D. Można również mierzyć bardzo precyzyjne i wysoce wypolerowane powierzchnie, np. z luster, oraz bardzo szorstkie powierzchnie, np. kamienie szlifierskie.

Zakres Z pomiarów urządzenia wynosi 20 mm. Opt-Scope jest wyposażony w stół X/Y sterowany CNC do automatyzacji i poszerzania obszaru pomiarowego. Oferuje również funkcję łączenia, dzięki czemu można także zmierzyć większe obszary.