Vollautomatischer 200 mm Frame Handling Prober

FP2000

Der FP2000 ist ein vollautomatischer 200 mm Frame Handling Prober mit integrierter Frame-Gripper-Funktion. Das System bietet eine Vielzahl von Einsatzmöglichkeiten, darunter das Testen ganzer Wafer sowie Wafer auf Dicing-Frames.

Dank seines modularen Aufbaus ist der FP2000 Wafer Prober jederzeit erweiterbar und passt sich flexibel an unterschiedliche Anforderungen in der Halbleiterprüfung an.

Funktionen und Merkmale

  • Vollautomatischer Betrieb
  • Unterstützt Wafer auf Dicing Frame: 2-8-1, 2-6-1
  • Kompatibel mit normalen Wafern in Größen: 5″, 6″ und 8″
  • Neu entwickelte Software zur Chippositionskorrektur
  • Automatische Waferausrichtung
  • Automatische Probe-Needle-Justierung zur Kontaktstellenpositionierung

Optionale Erweiterungen:

  • Multiple Die Probing
  • Nadelreinigung
  • GP-IB Interface
  • Probe-Mark-Inspektion
  • Drucker
  • Barcode-Reader
  • Wafer-ID-Reader
  • Farbkamera
  • Flat Loader

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Das Bild zeigt die Frontansicht eines Prober FP2000.

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