UF3000EX-e

Tam otomatik Wafer Prober Makineleri – çok çeşitli özel uygulamalar için de uygun

İşleme hızı bakımından rakipsiz

Üst düzey kullanım esnekliği

Navigasyonda noktasal isabet

Temassız ölçüm
  • 200 ila 300 mm çaplı waferler için – aynı zamanda özel wafer modelleri için
  • Yeni geliştirilen XY Stage tahrik ünitesi ve son derece yüksek verim için yeni algoritma
  • Maksimum Probe gücü için geliştirilmiş Z platformu – büyük yüzey ve High Pin Count Probe kartları üzerine eşit temas için
  • Kolay bir kullanım için 15 inç LCD dokunmatik ekran
  • ProbeCard ve Chuck’ın göreceli konumlarının yüksek hassasiyette ölçülmesi için Optical Target Scope (OTS)
  • Renkli kayıtlar ve 3 büyütme seviyesi için Tri-Color 3-Level Magnifying
  • Navigations Display işlevi – Wafermap üzerine dokunmanız yeter, bu sayede istediğiniz wafer noktasına ulaşabilirsiniz

Hizmetinizdeyiz

+49 (0)89 546788-0

İletişim formunun