UF3000EX-e

Wafer prober automatico, disponibile per un gran numero di applicazioni speciali

Senza compromessi in fatto di rendimento

Uso estremamente versatile

Grande precisione di navigazione

Misurazione senza contatto
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Per wafer da 200 a 300 mm di diametro, anche per tipi di wafer speciali
  • Unità di azionamento XY Stage di nuovo sviluppo e nuovo algoritmo per un rendimento estremamente elevato
  • Piattaforma Z migliorata per la massima forza di prova, per un contatto uniforme sulle probe card High Pin Count di grande superficie
  • Schermo tattile LCD da 15 pollici per agevolare il comando
  • Optical Target Scope (OTS) per misurare con grande precisione le posizioni di probe card e chuck
  • Tri-Color 3-Level Magnifying per rilevamenti a colori e 3 piani di ingrandimento
  • Funzione display di navigazione: basta toccare la mappa dei wafer per giungere al qualsiasi punto del wafer desiderato

Siamo a vostra disposizione

+33 (476) 04-4080


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