FP3000
Frame handling prober da 300 mm di comprovata qualità con funzione frame gripper
Numerose funzioni di sicurezza
Su richiesta con movimentazione di wafer
Configurazione specifica a seconda del prodotto
- Per wafer fino a 300 mm su dicing frame
- A scelta con movimentazione di wafer – per la massima versatilità in produzione
- Software di correzione della posizione dei chip
- Orientamento automatico del wafer
- Proble needle automatico per l’orientamento dei punti di contatto
- In opzione con Multiple Die Probing, pulizia ad aghi, interfaccia GP-IB, ispezione probe mark, stampante, lettore di codici a barre, lettore di ID wafer, telecamera a colori e flat loader
Prodotti utilizzati