Hochpräziser Wafer Prober für die Anforderungen von morgen
AP3000/AP3000e
Die AP3000-Wafer Prober- Serie vereint modernste Präzisionstechnik mit einem intelligenten Automatisierungskonzept. Entwickelt für anspruchsvolle Testumgebungen mit hohem Durchsatz, sorgt sie für extrem genaue und stabile Messergebnisse – auch bei sensiblen Testparametern.
Die Modelle AP3000 und AP3000e ermöglichen eine zuverlässige Prober-Performance mit minimierter Vibration und Geräuschentwicklung, kombiniert mit einer hochmodernen Softwarearchitektur, die Sicherheit und Systemintegration neu definiert.
Technologische Highlights:
- Höchste Genauigkeit – für feinste Strukturen und komplexe Testanwendungen
- Minimale Vibration & leiser Betrieb – ideal für sensible Prüfumgebungen
- Hoher Durchsatz – durch optimierte Indexbewegungen und Wafer-Ausrichtung
- Intuitive Bedienung – für schnelles Setup und reibungslosen Betrieb
- Sicherheitsplus – mit vorinstallierter Anti-Virus/Anti-Malware-Software
Individuell konfigurierbar – Optionen auf einen Blick
- Probing-Optionen:
- Automatischer Nadelreiniger (Cleaning Wafer / Cleaning Unit)
- HF Jig / Manipulator
- Auto Probe Card Exchange (APC)
- Wafer Handling & Umgebung:
- Dual Loader oder AMHS-Anbindung
- Fan Filter Unit (Mini-Environment)
- Chuck-Optionen: Ambient, Hot Temp., Low Temp., Low Noise
- Cassette & Wafer ID Reader (Top/Back Surface)
- Netzwerk & Schnittstellen:
- Prober Network (Veganet, Light-Veganet, Vega-Planet, GEM)
- GB-IB Interface
- PCAS – automatisches Setup der Probe Card
Perfekt für moderne Fertigungsprozesse
Ob in Forschung, Entwicklung oder in der Serienproduktion – die AP3000-Serie passt sich jeder Umgebung an. Dank robuster Performance, hoher Flexibilität und smarter Automatisierung ist sie ein zukunftssicheres Tool für den Halbleitertestbereich.
Wir beraten Sie gerne zur idealen Konfiguration der AP3000-Serie – abgestimmt auf Ihre Prozesse, Volumen und Testumgebung.
Maximale Leistung durch passendes Maschinenzubehör:
Finden Sie effiziente Kühlungssysteme für Ihren Prober-Prozess.
ARTS-HS-II: Hochgeschwindigkeits-Luftkühlsystem für Probing Systeme →
ARTS-HS-III: Luftgekühltes Kühlsystem für Probing Systeme →
ARTS-HS-III-WA: Hochgeschwindigkeits-Luft-Wasser-Kühlsystem für Probing Systeme →
