AP3000/AP3000e

Leistungsstarker Wafer Prober der nächsten Generation

Extrem hohe Genauigkeit

Geringe Vibration und geräuscharm

Hoher Durchsatz (Indexbewegung, Wafer-Handling, Wafer-Ausrichtung)

Einfache Handhabung

Hohe Sicherheit: Anti-Virus/Anti-Malware-Software ist standardmäßig installiert

Sie sehen hier eine Frontansicht des Probers AP3000.

Optionen

Nadelreinigung (Reinigung Wafer oder Reinigungseinheit)
Fan filter unit (mini-environment)
HF jig/manipulator, Tester interface
Loader : 2 Loader / Automation with AMHS
Chuck: Ambient / Hot temp. / Low temp. /Low noise
APC : Auto probe card exchange
Cassette ID reading
Wafer ID reading (Top surface / Back surface)
GB-IB Interface
Prober Network (Veganet, Light-Veganet, Vega-Planet, GEM)
PCAS (Probe card auto setup

Kontakt

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