UF2000

Vollautomatischer Wafer Prober für hohen Durchsatz – für 120 bis 200 mm Wafer

Mikrometergenaue Platzierungskontrolle

Exakte Temperaturbestimmung

Hocheffizientes Multi-Pin Probing
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Präzision +-1,5 µm, mit neuester Optik zur Bestimmung der Platzierungsgenauigkeit
  • Ultrastabile Z/θ Plattform für Multi-Pin Probing Kontakt
  • Genaue Kontrolle der Umgebungstemperatur – optional mit Low Temperature Chuck oder Hot Chuck
  • Hohe Flexibilität – zahlreiche Optionen wie Zweifachlader
  • Einfache Bedienung – multifunktionales Display und Touch Screen Bedienung
  • Jede Antriebs-Achse kann separat kontrolliert werden – für eine optimale Kontrolle jeder einzelnen Komponente
Print Friendly, PDF & Email

Wir sind für Sie da.

+49 (0)89 546788-0


Kontaktformular

mit * gekennzeichnete Felder sind zwingend anzugeben

Wie erreichen wir Sie am besten?