Aplikace CMP

Metoda CMP kombinuje chemické a mechanické zpracování. Výsledkem je hladký a rovný povrch waferu. Metoda CMP je určitou kombinací leptání a mechanického broušení. CMP je důležité zejména u waferů, které sestávají z mnoha různých vrstev. Při aplikaci dalších vrstev je totiž povrch více a více nestabilní a s pomocí metody CMP lze odstranit mikroskopické nerovnosti až do úrovně 0,3 nm. Takto bezchybný povrch později výrazně usnadňuje tisk integrovaných obvodů v následném litografickém procesu.

≤ 200 mm

Vysoce výkonná technologie CMP pro velkooobjemovou výrobu waferů o průměru 200 mm. Při osazení společně s kazetovým zásobníkem tvoří plně automatickou jednotku.

 ChaMP 211/232

≤ 300 mm

Kompaktní, modulární, spolehlivé. Pro wafery o průměru 300 mm s nejvyšší výstupní povrchovou kvalitou. Vedle kazetového zásobníku lze integrovat také čisticí jednotku pro precizní dočištění.

 ChaMP 311/332