UF3000EX

Plně automatický krokový tester (Wafer Prober) pro nejvyšší nároky výroby – ještě rychlejší a přesnější

Extrémně vysoká produktivita

Nejvyšší testovací síla

Optický systém měření

Vysoce precizní v navigaci

Nově vyvinutý pohon v osách XY a nový algoritmus pro extrémně vysoký výkon
Vylepšená platforma osy Z pro nejvyšší možnou testovací sílu – pro rovnoměrný kontakt s velkoplošnými zkušebními kartami s vysokým počtem pinů
Vysoce stabilní provedení Z-platformy s velkoplošnou čistící jednotkou jehel
15palcový LCD dotykový displej pro snadnou obsluhu
Optical Target Scope (OTS) pro vysoce přesné nastavení vzájemné pozice testovací karty a stolku s waferem
Tri-Color 3-Level Magnifying s barevnými obrazem ve 3 úrovních zvětšení
Funkce navigace displejem – dotykem na mapě může uživatel přejít na jakékoliv požadované místo