UF3000EX

Vollautomatischer Wafer Prober für höchste Produktionsansprüche – noch schneller und genauer

Extrem hoher Durchsatz

Höchste Probe-Kraft

Optisches Mess-System

Punktgenaues Navigieren
ACCRTECH Europe GmbH - Produkte - Semiconductor - %%title%%
  • Neu entwickelte XY Stage Antriebseinheit und neues Berechnungsverfahren für extrem hohen Durchsatz
  • Verbesserte Z-Plattform für höchste Probekraft – für gleichmäßigen Kontakt auf großflächigen und High Pin Count Probe Cards
  • Hochstabile Z-Achse mit großflächiger Nadel-Reinigungseinheit
  • 15 inch LCD Touch Screen für einfache Bedienbarkeit
  • Optical Target Scope (OTS) zum hochpräzisen Messen der relativen Positionen von Probe Card und Chuck
  • Tri-Color 3-Level Magnifying für farbige Aufnahme und 3 Vergrößerungsebenen
  • Navigations Display Funktion – durch einfaches Berühren der Wafermap kann der User zu jedem gewünschten Waferpunkt gelangen
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